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  - --|--|ELISA試劑盒開發(fā)
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掃描電鏡SEM檢測服務(wù)

服務(wù)簡介

掃描電子顯微鏡(scanning electron microscope，SEM)，簡稱為掃描電鏡，利用二次電子信號成像進行觀察，分析樣品表面或斷口形貌。掃描電鏡通過電子槍發(fā)射出電子束，在加速電壓作用下，電子檢測器捕獲樣品室中樣品表面的電子信號形成圖像。掃描電鏡具有放大倍率高、分辨率、樣品制備簡單、儀器操作方便等特點。

近年來，隨著掃描電鏡技術(shù)的普及和應(yīng)用，掃描電鏡對大分子顆粒超微形貌的觀察，成為全面分析大分子結(jié)構(gòu)特性必不可少的一種輔助研究手段。在對多糖等生物大分子表面形貌的觀察研究中得到越來越多的應(yīng)用。掃描電鏡可以獲得分辨率較高的圖像，使其立體和現(xiàn)實。此外，SEM還可以對純化后的多糖進行結(jié)構(gòu)表征，并對結(jié)構(gòu)穩(wěn)定的多糖的分離純化進行直觀地跟蹤，為不同多糖三維形狀的多樣性和特異性的鑒定提供啟示。

北京百歐泰生物科技有限公司擁有多年的掃描電鏡檢測經(jīng)驗，采用高分辨率的掃描電子顯微鏡SEM廣泛用于觀察天然多糖表面的微觀結(jié)構(gòu)。通過充分運用掃描電鏡高分辨率、高放大倍率、立體感強等特點，對不同純化處理條件下得到的多糖進行電鏡掃描觀察，尋找不同純化程度下的多糖顆粒之間在超微形貌上的差異性，明確多糖顆粒的微觀結(jié)構(gòu)特征規(guī)律，以期為多糖結(jié)構(gòu)的深入研究提供基礎(chǔ)數(shù)據(jù)與參考。

SEM檢測

掃描電鏡SEM檢測服務(wù).png

儀器：日立HITACHI SU8010；Tescan Mira4；FEI Nova NanoSEM 450；日立Hitachi S-4800

樣品要求

純度：樣品應(yīng)無污染物（油脂、溶劑殘留）；

尺寸：適配樣品臺（通常≤1 cm2，厚度≤5 mm）；

干燥：樣品需完全脫水，防止真空損傷影響成像；

導(dǎo)電性：非導(dǎo)電樣品需鍍金/鉑/碳膜，避免荷電效應(yīng)；

平整性：表面平整或斷面清晰，必要時使用固定劑保持樣品形態(tài)；

穩(wěn)定性：能耐受電子束照射，避免損傷或變形，必要時進行化學(xué)交聯(lián)等穩(wěn)定處理；

價格：300元/樣。

服務(wù)內(nèi)容

表1 SEM的測試模式及選擇依據(jù)

測試模式	選擇依據(jù)
點掃	電子束固定在樣品表面的某一點進行掃描，適用于精確的單點元素分析或高分辨率成像
線掃	電子束沿樣品表面的一條直線進行掃描，適用于分析元素或形貌的一維變化
面掃	電子束在樣品表面的一個區(qū)域內(nèi)進行二維掃描，適用于全面的二維元素分布和形貌分析

表2 SEM的不同磁性樣品形貌測試方法

樣品磁性	特點	形貌測試方法
非磁性	不受磁場影響，測試相對簡單	無需特殊處理，直接進行形貌測試；若樣品不導(dǎo)電，需鍍金或碳膜以避免電荷積累
弱磁	具有微弱磁性，可能對電子束產(chǎn)生輕微影響	通?？芍苯訙y試，但需觀察是否有磁場干擾；若樣品不導(dǎo)電，需鍍膜；必要時使用低電壓模式減少干擾
強磁	具有強磁性，可能嚴(yán)重干擾電子束和設(shè)備	使用磁屏蔽裝置減少磁場干擾；采用低電壓模式減少干擾；使用非磁性樣品臺固定樣品；若樣品不導(dǎo)電，需鍍膜